二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱/三箱式高低溫試驗(yàn)機(jī)的詳細(xì)資料：

主要用途：
二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱/三箱式高低溫試驗(yàn)機(jī)主要用于材料或復(fù)合材料的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)檢測(cè)試驗(yàn)，適用于金屬、電子、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)。
結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：
根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗(yàn)室，產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過(guò)電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動(dòng)的。
適用范圍：
主要用于測(cè)試材料或復(fù)合材料在瞬間下經(jīng)高溫或低溫連續(xù)環(huán)境下的忍受程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁、光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的測(cè)試箱，用于耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)檢測(cè)試驗(yàn)。
符合標(biāo)準(zhǔn)：
《GB10592-89》高低溫箱技術(shù)條件；
《GB10586-93》濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
《GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：低溫試驗(yàn)方法；
《GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：高溫試驗(yàn)方法；
《GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：交變濕熱試驗(yàn)方法；
《GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：恒定濕熱試驗(yàn)方法。
技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：-65℃～150℃：高溫箱：+60℃～150℃；低溫箱：0℃～-65℃；
2、溫度波動(dòng)度：±2℃;
3、溫度誤差：±2℃;
4、升溫速率：從常溫～150℃≤50min；
5、降溫速率：從常溫～-65℃≤60min;
6、制冷下限溫度：≤-65℃;
7、沖擊溫度：+150～-65℃;
8、工作室尺寸：500×400×400mm（寬×高×深）;
9、外形尺寸：約1900×2100×2000mm（寬×高×深）;
10、電源：380V±38V；50Hz±1Hz
11、功率：約16.5Kw
12、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min;
13、樣品架承重：10Kg以?xún)?nèi).